一、 什么是HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱？

HAST，全稱為Highly Accelerated Stress Test，即高加速應(yīng)力測(cè)試。HAST試驗(yàn)箱是一種利用高溫、高濕、高氣壓的環(huán)境條件，來(lái)極快地評(píng)估電子產(chǎn)品（特別是半導(dǎo)體器件、集成電路、PCB、封裝材料等）的耐濕氣可靠性的試驗(yàn)設(shè)備。

它本質(zhì)上是一種“時(shí)間機(jī)器"，可以在實(shí)驗(yàn)室里用幾天或幾周的時(shí)間，模擬出產(chǎn)品在自然環(huán)境下數(shù)月甚至數(shù)年才會(huì)發(fā)生的濕氣侵蝕失效。

二、 HAST的工作原理與核心目的

核心原理：
通過(guò)施加遠(yuǎn)高于大氣壓的飽和蒸汽壓（通常為0.2 MPa至0.29 MPa，對(duì)應(yīng)溫度約130°C至142°C），HAST在器件內(nèi)部和外部創(chuàng)造出巨大的壓力差和溫度梯度。這種嚴(yán)苛的條件會(huì)極大地加速濕氣通過(guò)封裝材料或微小縫隙滲透到器件內(nèi)部的過(guò)程，從而導(dǎo)致：

• 腐蝕：金屬引線、焊盤(pán)、鍵合線的電化學(xué)腐蝕。

• 分層：封裝材料之間的粘接界面失效。

• 離子遷移：導(dǎo)致短路或漏電。

• 封裝裂紋。

核心目的：

1. 加速評(píng)估可靠性：快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在潮濕環(huán)境下的設(shè)計(jì)缺陷、材料缺陷和工藝缺陷。

2. 縮短研發(fā)周期：相比傳統(tǒng)的溫濕度試驗(yàn)（如85°C/85%RH，需要1000小時(shí)），HAST能在更短的時(shí)間內(nèi)（如96小時(shí)）提供可靠性數(shù)據(jù)。

3. 質(zhì)量監(jiān)控與驗(yàn)證：用于批量生產(chǎn)中的質(zhì)量抽樣檢驗(yàn)和新產(chǎn)品、新工藝的可靠性驗(yàn)證。

三、安裝條件

僅作參考：

1、設(shè)備尺寸：約寬 800mm 高1850 深850mm

2、電源要求：220V 電源 。需要安裝2P大的空開(kāi)，設(shè)備的電線是3米，所以空開(kāi)的位置與設(shè)備安置地 不要超3米

3、設(shè)備功率：3.5KW

4、其他：水源是用純凈水、氣離子水、蒸餾水、就是不能是山泉水

5.需要排廢水，做一次試驗(yàn)要排空利用過(guò)的水，排水口 口徑25mm，用戶根據(jù)場(chǎng)地來(lái)設(shè)計(jì)， 沒(méi)有條件也可以 拿個(gè)容器接著 ，滿了自己倒掉都行